WK6500 Series C-V半導體特性曲線測試報告
C-V半導體特性曲線測試報告,此報告是驗證WK6500B阻抗分析儀,在測試C-V特性曲線時,以GPIB 指令編寫軟體,以Fast的測試速度,測試C值在200fF,加入13種不同的DC Bias電壓,電壓範圍在 +5V~-5V的條件下,測試得到的C值的變化在+/-5fF Variation。此報告驗證WK6500B運用於大量自動化測試時,它的精度與穩定度的表現都非常的傑出。
附件下載
WK6500 Serirs CV TEST REPOET
695.1 K
2018-07-16