英之科科技股份有限公司 -- WK6500 C-V半導體特性曲線測試報告

WK6500 C-V半導體特性曲線測試報告

C-V半導體特性曲線測試報告，此報告是驗證WK6500B阻抗分析儀，在測試C-V特性曲線時，以GPIB 指令編寫軟體，以Fast的測試速度，測試C值在200fF，加入13種不同的DC Bias電壓，電壓範圍在 +5V~-5V的條件下，測試得到的C值的變化在+/-5fF Variation。此報告驗證WK6500B運用於大量自動化測試時，它的精度與穩定度的表現都非常的傑出。