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WK6500 Series C-V半導體特性曲線測試報告   
C-V半導體特性曲線測試報告，此報告是驗證WK6500B阻抗分析儀，在測試C-V特性曲線時，以GPIB 指令編寫軟體，以Fast的測試速度，測試C值在200fF，加入13種不同的DC Bias電壓，電壓範圍在 +5V~-5V的條件下，測試得到的C值的變化在+/-5fF Variation。此報告驗證WK6500B運用於大量自動化測試時，它的精度與穩定度的表現都非常的傑出。
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  WK6500 Serirs CV TEST REPOET 695.1 K  2018-07-16
                                                                                          
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